白剛玉的粒徑分析方法概述

以下就是佰特研磨材料公司為大家介紹的有關(guān)白剛玉的粒度檢測(cè)方法對(duì)比的相關(guān)資訊，如果您對(duì)我們的白剛玉產(chǎn)品感興趣，請(qǐng)聯(lián)係我們，我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)。 

一、篩分法。 

優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低，常用於大於40um的樣品。

缺點(diǎn)：結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。 

二、顯微鏡（圖像）法。

優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀，可進(jìn)行形貌分析，適合分布窄（*大和*小粒徑的比值小於10：1）的樣品。

缺點(diǎn)：代表性差，分析分布範(fàn)圍寬的樣品比較麻煩，無(wú)法分析小於1um的樣品。 

三、沉降法（包括重力沉降和李新沉降）。

優(yōu)點(diǎn)：操作漸變，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重複性較好，測(cè)試範(fàn)圍較廣。

缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)，操作比較繁瑣。

四、電阻法。

優(yōu)點(diǎn)：操作漸變可測(cè)顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。

缺點(diǎn)：不適合測(cè)量小於0.1um的顆粒樣品，對(duì)粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。

五、激光法。

優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，測(cè)試速度快，測(cè)試範(fàn)圍廣，重複性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測(cè)量和乾法測(cè)量。缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大，儀器造價(jià)較高，分辨力低。 

六、電子顯微鏡法。

優(yōu)點(diǎn)：適合測(cè)試超新顆粒甚至納米顆粒，分辨力高，可進(jìn)行形貌和結(jié)構(gòu)分析，

缺點(diǎn)：樣品少，代表性差，測(cè)量易受人為因素影響，儀器價(jià)格昂貴。 

七、光阻法。

優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試便捷快速，可測(cè)液體或氣體中顆粒數(shù)，分辨力高。

缺點(diǎn)：不適用粒徑小於1umde樣品，進(jìn)行係統(tǒng)比較講究，僅適合對(duì)塵埃、汙染物或已稀釋好的**進(jìn)行測(cè)量，對(duì)一般粉體用的不多。

八、透氣法。

優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低。不用對(duì)樣品進(jìn)行分散，可測(cè)測(cè)性材料粉體。

缺點(diǎn)：隻能得到平均粒度值，不能測(cè)粒度分布；不能測(cè)小於5um細(xì)粉。 

九、X射線小角散射法。

用於納米級(jí)顆粒的粒度測(cè)量。 

十、光子相關(guān)譜法（動(dòng)態(tài)光散射法）。

用於納米級(jí)顆粒的粒度測(cè)量。